覆盖透射观察的主要需求，按样品类型与观察目标匹配合适的制样方式与测试条件。
观察纳米颗粒、纤维、薄膜等样品的内部微观形貌、粒径与分散状态，提供明场像与暗场像。
晶格条纹级高分辨成像，用于确认晶相、观察晶界与缺陷、判断结晶质量。
选区电子衍射分析晶体结构与取向，判断单晶 / 多晶 / 非晶特征，配合物相判断。
纳米尺度的元素成分分析：定点、线扫与面分布（Mapping），定位纳米析出相与界面成分。
STEM 模式下高角环形暗场（HAADF）成像，成分衬度清晰，适合异质结构与催化剂观察。
对纳米颗粒样品进行粒径测量与统计分布，给出平均粒径与分布数据，可用于论文与质控。
透射观察要求电子束穿透样品，制样是关键一步。以下要点请寄样前确认，拿不准直接提交需求由技术人员评估。
从需求到数据交付全程技术人员对接，制样方案先行确认，避免样品往返浪费周期。
说明样品类型、观察目标与是否需要制样。
确认制样方式（铜网分散 / FIB 薄片 / 离子减薄）并报价。
寄至北京海淀或江苏无锡收样地址，同步快递单号。
按确认条件完成测试，测试点位与倍率随时沟通调整。
交付原始图像、衍射花样与数据文件，附测试条件说明。
关于制样、价格、周期的常见疑问。没找到答案可直接电话联系。
按制样方式、测试项目（形貌 / HRTEM / 衍射 / EDS / Mapping）与机时报价。粉末直测与块体制样成本不同，说明样品与目标后给出正式报价。
是的，透射电镜要求电子束能穿透样品，观察区域通常需要 100 纳米以内。粉末样品分散到铜网上即可；块体样品需要 FIB 或离子减薄制样，我方可以代做。
先做 FIB 定点薄片制备，再上 TEM 观察，两项都可在我们内部完成，薄片不需要转运，避免氧化与损伤。具体见 FIB 加工服务页。
粉末直测类需求在条件确认后数个工作日内完成；需要制样的按制样方式评估排期，具体在方案确认时明确。
普通形貌看颗粒/结构的轮廓与尺寸；HRTEM 是晶格条纹级成像，能确认晶面间距、晶界与缺陷，通常用于物相与结晶质量的判断。两者可以组合在同一批测试中。